发展趋势

应用场景广泛

智能控制核心,物联网及汽车电子需求快速增长

品质需求日益严苛

测试需求更多功能覆盖

竞争激烈

快速完成验证并导入量产,推向市场

低成本

低成本高效率测试方案

方案概述

125MHz/250Mbps

DIO 功能向量验证

大容量向量

scan模式,支持 DFT测试

Per-pin DSIO功能

提供AD/DA测试功能

High-Voltage数字输入

提供嵌入式memory测试条件

板载AWG/DIG提供

混和信号测试功能

核心优势

CORE ADVANTAGES

All-in-One设计

IO通道与其他资源配比1:8 完全并行测试

模块化设计

单芯片调试通过后,软硬件无缝转化 多工位量产测试

DIO双指令集

高效trim修调测试

把您的需求告诉我们,
让我们优秀的团队为您提供优质的服务!